| 品牌 | 昊量光電 | 系統(tǒng)構(gòu)成 | hiXAS硬X射線系統(tǒng);proXAS軟X射線系統(tǒng) |
|---|---|---|---|
| 測試模式 | XANES/NEXAFS近邊;EXAFS擴展邊 | hiXAS能量范圍 | 標(biāo)準(zhǔn)4.5~25 keV,支持更高能區(qū)定制 |
| hiXAS分辨率 | XANES 4000;EXAFS 1800 | hiXAS測試時間 | EXAFS快至3分鐘;XANES快至8分鐘 |
| EXAFS通帶 | 1000 eV | proXAS能量范圍 | 200~1200 eV |
| proXAS分辨率 | 1900;譜峰位置偏差<0.06% | proXAS光源 | 無碎片激光等離子體XUV光源;功率穩(wěn)定性±1.5% |
| proXAS占地 | 1.5 m×1.0 m |
昊量/星朗一體化XAS系統(tǒng)—軟X射線到硬X射線
昊量/星朗一體化XAS系統(tǒng)—軟X射線到硬X射線適用于相關(guān)科研和工業(yè)應(yīng)用場景,具備穩(wěn)定可靠、操作便捷和便于系統(tǒng)集成等特點。
軟 X 探表面,硬 X 析體相,一站式實驗室 XAS 系統(tǒng)
昊量光電的XANES/EXAFS系統(tǒng)是實驗室級 X 射線吸收譜,核心定位是將同步輻射級別的 XAS 檢測能力落地到常規(guī)實驗室,讓科研人員無需申請、等待同步輻射機時,即可在室內(nèi)完成 X 射線吸收近邊結(jié)構(gòu)(XANES/NEXAFS)與擴展邊精細(xì)結(jié)構(gòu)(EXAFS)測試。

吸收邊附近的NEXAFS區(qū)域表現(xiàn)出X射線吸收系數(shù)的zui大變化,通常以強烈而狹窄的共振峰為主,這些共振峰源于芯電子向非束縛能級的躍遷。NEXAFS對局域原子態(tài)(如氧化態(tài))敏感。
EXAFS結(jié)構(gòu)則源于發(fā)射出的光電子的波動特性,這些光電子被周圍原子散射,通過相長干涉和相消干涉形成振蕩,進而可用于推斷鍵長及鄰近原子的相關(guān)信息。
產(chǎn)品矩陣覆蓋軟 X 射線 - 硬 X 射線全場景,包含兩款功能互補的一體化系統(tǒng):面向硬 X 射線、支持全功能 XAS 測試的hiXAS,以及面向軟 X 射線 / 極紫外波段、專注表面 NEXAFS 分析的proXAS,廣泛服務(wù)于催化、能源、材料、地質(zhì)、生物等領(lǐng)域的基礎(chǔ)研究與工業(yè)研發(fā)。
hiXAS 一體化硬 X 射線 XAS 系統(tǒng)
hiXAS 是實驗室級交鑰匙 X 射線吸收譜系統(tǒng),基于 X 射線管光源 + von Hamos 構(gòu)型 HAPG 晶體光譜儀,同時支持XANES(近邊)與EXAFS(擴展邊)兩種測試模式,主打硬 X 射線波段的體相結(jié)構(gòu)與價態(tài)分析。
hiXAS的核心優(yōu)勢
同步輻射級數(shù)據(jù)品質(zhì):XANES 分辨率 4000,EXAFS 分辨率 1800,全能量范圍穩(wěn)定,譜圖與同步輻射高度吻合
非掃描快速原位測試:寬譜一次性采集,EXAFS 快至 3 分鐘、XANES 快至 8 分鐘;支持?jǐn)?shù)天級原位 / 工況長時動態(tài)追蹤
高靈敏寬通帶:低至 wt% 級元素檢出限,EXAFS 通帶達(dá) 1000eV,單次測試覆蓋近邊 + 擴展邊
能區(qū)廣可定制:標(biāo)準(zhǔn) 4.5-25keV,覆蓋 3d 過渡金屬至 Zr、Pt、U 等中重元素,支持更高能區(qū)定制
一體化易拓展:自帶控制與分析軟件,雙樣品端口,支持批量測試與加熱、電化學(xué)池等原位環(huán)境搭建
hiXAS元素范圍

hiXAS典型應(yīng)用
催化領(lǐng)域:電解水 OER 催化劑、合成氣催化、單原子 / 高熵催化劑的原位過程表征
能源存儲:電池電極材料充放電過程的價態(tài)演化與鍵長變化追蹤
環(huán)境與核材料:放射性元素價態(tài)分析、核電材料腐蝕產(chǎn)物表征
材料研究:合金、MOF、化合物的短程有序結(jié)構(gòu)、化學(xué)形態(tài)解析
proXAS 桌面型軟 X 射線 NEXAFS 系統(tǒng)
proXAS 是global一款商用集成式桌面 NEXAFS 系統(tǒng),基于高可靠激光等離子體 XUV 光源,專注軟 X 射線 / 極紫外波段(200-1200eV)的近邊吸收譜測試,主打高表面靈敏度與輕元素分析能力。
proXAS核心優(yōu)勢
桌面級方案:打破軟 X 射線 NEXAFS 對同步輻射的依賴,常規(guī)實驗室即可開展測試
超高表面靈敏度:軟 X 射線天然表面敏感,精密解析樣品表層分子軌道、氧化態(tài)、配位數(shù)與分子取向
同步輻射級精度:分辨率達(dá) 1900,譜峰位置偏差 < 0.06%,多色光快速采集
穩(wěn)定緊湊易部署:無碎片激光等離子體光源,功率穩(wěn)定性 ±1.5%;占地僅 1.5m×1.0m,適配標(biāo)準(zhǔn)實驗臺
低檢出限:輕元素zui低檢測濃度可達(dá) 0.2wt%,適配低含量樣品分析
proXAS元素范圍

proXAS典型應(yīng)用
表面科學(xué):聚合物薄膜、二維材料、改性涂層的表面化學(xué)態(tài)與電子結(jié)構(gòu)表征
有機與生物材料:高分子、脂質(zhì)膜、腐殖酸的 C/N/O 輕元素結(jié)構(gòu)分析
地球化學(xué):氧化物礦物的氧邊化學(xué)態(tài)、地質(zhì)樣品元素形態(tài)研究
輕功能材料:碳基材料、鈣鈦礦等體系的氧化態(tài)與電子結(jié)構(gòu)解析







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