| 品牌 | OTSUKA/大塚電子 | 價格區間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 光譜范圍 | 可見 | 按探測器 | 其它 |
| 應用領域 | 綜合 | 產品型號 | MCPD-9800 |
| 光譜范圍 | 紫外/可見/近紅外 | 檢測器通道 | 512ch或1024ch |
| 最快采集間隔 | 5微秒 | 積分時間范圍 | 5ms-65s |
| 通信接口 | USB、LAN | 測量方式 | 非掃描式同步采集 |
| 執行標準 | JIS Z8724 |
昊量光電/星朗浩宇瞬間多通道光譜儀
昊量光電/星朗浩宇瞬間多通道光譜儀
日本大塚電子深耕光學測量技術五十余年,長期專注于高精度光譜與材料分析儀器的研發。其 MCPD 系列多通道陣列光譜儀采用非掃描式分光檢測結構,可實現光譜的同步高速采集,廣泛應用于發光材料分析、薄膜光學測量及熒光檢測等領域。該系列產品在顯示面板、半導體制造及材料研發等工業與科研場景中具有成熟應用,是兼具測量穩定性與工程可靠性的光譜分析設備平臺。
MCPD-9800是一款涵蓋紫外到近紅外波長范圍的多用途光譜儀,曝光時間下限可達5ms。配備了通用USB端口和LAN端口,可以通過512ch或1024ch探測器以5 微秒的間隔監視UV / VIS / NIR光譜,進行高速和高靈敏度頻譜采集。產品使用標準光纖,可以配置柔性光學器件,免受樣品形狀和大小的任何限制。此外,可以輕松地集成到顯微鏡和大樣品臺,實現光學性能。MCPD系列均符合日本工業標準(JIS Z 8724)對光譜儀產品的質量和精度要求。可用于測量發光光譜透射/吸收光譜,反射光譜,光致發光,物體顏色,光源顏色(色度,亮度,照度),膜厚,等離子體發射光譜等對象,可以測量的技術參數包括微點光譜、光源、透射率、反射率、物體顏色和厚度等。

· 寬動態范圍,適合全光束測量
· 雜散光校正功能可進行紫外線測量
· 集成時間范圍5ms-65s,適用于微弱光測量、高速測量、在線測量等廣泛測量需求
· 輕量、緊湊的豎立式設計,尺寸比上一代縮小約60%
· 具備能應對多種用途的各種類型的探測器
· 高速、高靈敏度測量光譜
· 通信接口可對應USB和LAN
· 光纖探頭,可搭配其他探測件使用
· 精度滿足日本工業標準JIS Z8724中對分光測光器的所有要求
該產品產品優勢:
根據用途的各種檢測器的陣容
以MCPD-9800為首,擁有兩個系列,共達9個波長范圍的檢測器型號。可配合客戶的需求與測量用途,選擇適合的檢測器。
通訊接口支持USB和LAN
具備了通用的USB端口,以及能滿足遠程遙控測量的LAN通信功能。便捷性和測量用途的范圍擴大。
高速、高感度測量光譜
利用512ch或者1024ch的檢測單元與檢測器內部的存儲器,對實時變化的紫外、可視、近紅外領域的發光、透過和吸收光譜,能夠以zui高速度5微秒(MCPD-9800機型的情況下)間隔進行高感度、高精度的測量。
利用光纖自由搭建光學系統
通過標準配置的光纖,不再受到樣品形狀和大小的約束,從而能夠搭建更自由的光學系統。另外,能更容易與顯微鏡、大型平臺等其他裝置進行組合,在所有領域都得以發揮其優異的性能。此外,它很容易與顯微鏡和大型載物臺等其他設備結合使用,因此在各個領域都表現出卓zhuo越的性能。
性能滿足日本工業標準(JIS)的高性能分光測光器
MCPD能滿足日本工業標準JIS z 8724(顏色的測量方法-光源色)中對分光測光器的所有精度要求,盡可放心使用。
標準可追溯提供可靠的校準服務
在根據計量法制定的校正實驗室注冊制度(JCSS*1注冊制度)下,大塚電子的光計測實驗室被認定為屬于“光"注冊分類的國際MRA*2對應的JCSS校正實驗室。為了公平公正地評估照明器具和光源的性能,國內外都在推進光特性測量方法的規格化等各種各樣的標準化,這些標準化所要求的測光均以“光"的可追溯性為基本。本次認定后,大塚電子開啟了新的“光"校正事業,通過提供測光的可追溯性,努力為普及和發展節能環保的照明貢獻自己的力量。
滿足多樣化需求的定制生產!
擁有豐富的附屬配件、選配單元和分析軟件。通過積累的技術和know-how,為客戶需求提供高水平技術支持。
機型對比:
MCPD-6800是用于分光檢測與分析的基本系統。可以瞬間進行分光光譜測量,也可以通過自由組合的光學系統和豐富的配件搭建各式各樣的測量系統,測量波長范圍有4款型號可選。(具體型號及參數可聯系產品負責人獲取)
MCPD-9800是該產品MCPD系列的premium model,具有更寬的動態范圍,低雜散光功能以及更高速、更高再現性的性能。更適用于紫外定量評估、量子效率測量、在線測量為首的高精度測光系統。

該產品應用實例:











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