<昊量/星朗表面形貌輪廓測量標(biāo)準(zhǔn)片/標(biāo)準(zhǔn)樣-上海昊量光電設(shè)備有限公司(星朗浩宇光電)

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昊量/星朗表面形貌輪廓測量標(biāo)準(zhǔn)片/標(biāo)準(zhǔn)樣

簡要描述:昊量/星朗表面形貌輪廓測量標(biāo)準(zhǔn)片/標(biāo)準(zhǔn)樣是一款用于表面形貌測量儀器校準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)樣。該產(chǎn)品包含多種幾何結(jié)構(gòu)和測量區(qū)域,可支持ISO 25178相關(guān)計(jì)量特性的評(píng)估。

  • 產(chǎn)品型號(hào):
  • 廠商性質(zhì):代理商
  • 更新時(shí)間:2026-06-18
  • 訪  問  量:203
產(chǎn)品目錄

Product catalog

詳細(xì)介紹
品牌昊量光電價(jià)格區(qū)間面議
產(chǎn)品種類接觸式輪廓儀/粗糙度儀產(chǎn)地類別國產(chǎn)
應(yīng)用領(lǐng)域綜合標(biāo)準(zhǔn)依據(jù)ISO 25178-600/70
測量區(qū)域17個(gè)潛在測量區(qū)域區(qū)域尺寸100-1500μm
校準(zhǔn)用途形貌/平面度/橫軸校準(zhǔn)適配儀器表面形貌測量儀器
測量對(duì)象粗糙表面/十字光柵等應(yīng)用倍率5倍至100倍

昊量/星朗表面形貌輪廓測量標(biāo)準(zhǔn)片/標(biāo)準(zhǔn)樣



昊量/星朗表面形貌輪廓測量標(biāo)準(zhǔn)片/標(biāo)準(zhǔn)樣昊量光電提供表面形貌測量的通用校準(zhǔn)件可用于對(duì)面形貌測量儀器進(jìn)行全面校準(zhǔn)。該校準(zhǔn)件上包含的材料測量數(shù)據(jù)可根據(jù) ISO 25178-600 標(biāo)準(zhǔn)確定其計(jì)量特性。


通常,需要六種不同的幾何形狀來確定這些計(jì)量特性。為了實(shí)現(xiàn)常用的5倍至100倍顯微放大倍率,布局中包含了面積分別為100 µm × 100 µm、200 µm × 200 µm、400 µm × 400 µm、800 µm × 800 µm和1500 µm × 1500 µm的不同材料測量區(qū)域,從而在樣品上總共形成17個(gè)潛在的測量區(qū)域,涵蓋 ISO 25178-600 中定義的所有計(jì)量特性。



包括以下材料測量:


1)    ???星形樣品(符合 ISO 25178-70 標(biāo)準(zhǔn)的 ASG 型),?積為 400 µm x 400 µm

利用這種材料測量方法,可以計(jì)算出與測量儀器的形貌分辨率相對(duì)應(yīng)的測量值。由此,可以確定以原始振幅 50% 的振幅透射的空間頻率(空間周期極限)[2]。


2) 啁啾材料測量(CIN 型,不符合現(xiàn)? ISO 標(biāo)準(zhǔn)):x ?向?積為 400 µm x 400 µm,y ?向? 積為400 µm x 400 µm

通過啁啾材料測量,可以確定形貌保真度的某些方面,這些方面與 ISO 25178-600 [3] 中的形 貌分辨率相關(guān)。樣品允許分別評(píng)估 x 和 y 方向,尺寸為 400 µm × 400 µm,涵蓋 0.807 µm 至 48.389 µm 之間的 16 個(gè)不同波長。


3) 圓形啁啾材料測量(CIN-r 型,不符合現(xiàn)? ISO 標(biāo)準(zhǔn)),?積為 400 µm × 400 µm。

利用圓形啁啾材料測量,可以確定不同方向上的形貌保真度,這與 ISO 25178-600 [3] 中的形貌分辨率相關(guān)。樣品允許在不同方向上進(jìn)行單獨(dú)評(píng)估,其尺寸為 400 µm × 400 µm,涵蓋 0.807 µm 至 36.830 µm 之間的 15 個(gè)不同波長。


4) 平?度材料測量儀(ISO 25178-70 標(biāo)準(zhǔn)中的 AFL 型),測量?積為 1500 µm x 1500 µm。

利用平面度材料測量儀,可以確定儀器噪聲和平整度偏差。這是通過測量 ISO 25178-700 標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的面紋理參數(shù)來實(shí)現(xiàn)的。


5) 徑向正弦波(符合 ISO 25178-70 標(biāo)準(zhǔn)的 ARS 型),其?積分別為 100 µm × 100 µm、200 µm × 200 µm、400 µm × 400 µm 和 800 µm × 800 µm。

利用這些材料尺寸,可以對(duì)測量儀器的三個(gè)軸進(jìn)行通用校準(zhǔn)。因此,可以按照 ISO 25178-70 標(biāo)準(zhǔn)確定被測量值和 。


6) ?字光柵(符合 ISO 25178-70 標(biāo)準(zhǔn)的 ACG 型),尺?分別為 100 µm × 100 µm、200 µm × 200 µm、400 µm × 400 µm 和 800 µm × 800 µm。

十字光柵材料測量用于校準(zhǔn)橫軸。計(jì)量特性(符合 ISO 25178-600 標(biāo)準(zhǔn))為局部 x-y 映 射偏差。此外,還可以確定橫軸的線性偏差和 、放大系數(shù)和以及垂直度PER。


7) 不規(guī)則粗糙表?(ISO 25178-70 中的 AIR 型),其?積分別為 100 µm × 100 µm、200 µm × 200 µm、400 µm × 400 µm 和 800 µm × 800 µm。

這種不規(guī)則粗糙表面通常用于確定基于面積振幅的表面紋理參數(shù)。該表面采用基于模型 的設(shè)計(jì)方法確定,并以實(shí)際工程表面為原型 [4]。此外,通過對(duì)高度軸進(jìn)行校準(zhǔn),進(jìn)一步擴(kuò)展了其功能 [5]。高度軸的校準(zhǔn)可通過計(jì)算線性偏差和放大系數(shù)來實(shí)現(xiàn)。這些參數(shù) 的確定方法參見 ISO 25178-60x 系列標(biāo)準(zhǔn)。然而,校準(zhǔn)并非使用數(shù)量有限的特定值,而是利用表面的線性阿博特曲線,通過比較測量高度值與目標(biāo)高度值,并結(jié)合所有測量 點(diǎn),來確定響應(yīng)曲線。因此,校準(zhǔn)過程中使用了大量的測量點(diǎn),從而實(shí)現(xiàn)了高精度且實(shí)用的校準(zhǔn)程序。



表 1 測量對(duì)象:表中列出了待確定的材料測量的所有計(jì)量參數(shù) [1]。



該裝置無需更換樣品即可在不同的顯微放大倍率下進(jìn)行校準(zhǔn)。因此,僅需一個(gè)樣品,即可替代多種其他材料測量值,從而實(shí)現(xiàn)經(jīng)濟(jì)高效的校準(zhǔn)。其計(jì)量特性代表了面形表面形貌測量領(lǐng)域國際標(biāo)準(zhǔn)化的新水平。表1總結(jié)了定義的測量參數(shù)。表中的標(biāo)稱值是基于目標(biāo)制造幾何形狀計(jì)算得出的。





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